當前標簽：X射線熒光光譜儀
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設(shè)備名稱：X射線熒光光譜儀型號：AxiosmaxPW4400/40品牌：荷蘭帕納科用途金屬材料、礦物質(zhì)及其他無機物材料樣品中的元素及化合物含量的測定。技術(shù)參數(shù)：穩(wěn)定性：0.0023%精密度：0.1%我公司光譜分析與化學分析擁有德國OBLF
