設(shè)備名稱：鎢燈絲掃描電鏡

型號：Q45W7

品牌：美國FEI

用途：掃描電鏡主要用于各種材料的組織形貌觀察，材料斷口分析和失效分析；配備能譜儀可進行材料實時微區(qū)的成分分析，元素定量、定性成分分析，快速的多元素面掃描和線掃描分布測量；配備背散射電子衍射儀（EBSD）可進行晶格取向分析；配備非金屬夾雜物分析軟件可進行夾雜物定性定量分析。

特點：對于失效分析、質(zhì)量控制和材料表征而言，Quanta 450鎢燈絲掃描電鏡具有經(jīng)濟、高效的高分辨成像和分析應(yīng)用的解決方案，應(yīng)對不導(dǎo)電樣品，Quanta 450提供了低真空模式下的高性能、消除了對專用的樣品制備步驟；另外Quanta 450加上了換掃模式，擴展了SEM的成像和分析功能。

技術(shù)參數(shù)：

1.分辨率：

（1）二次電子（SE）成像：

高真空模式：30KV時≦3.0nm；3KV≦8.0 nm

低真空模式：30KV時≦3.0nm；3KV≦10.0 nm

環(huán)境真空模式：30KV時≦3.0nm

（2）背散射電子（BSE）成像

高、低真空模式：30KV時≦4.0nm

2.放大倍數(shù)：

高真空模式下，13x-1000000x

放大倍數(shù)誤差：≦3%

3.牛津能譜儀（EDS）：

能量分辨率：MnKa保證由于127eV

元素分析范圍：Be4~Cf98

我公司金相檢測擁有德國蔡司Axio observer Z1M 研究級智能全自動材料顯微鏡、 MR5000金相顯微鏡等專業(yè)檢測設(shè)備 ，F(xiàn)EI Quanta 450掃描電鏡，并配備牛津能譜儀、背散射電子衍射儀（EBSD）等設(shè)備達到科研級。

設(shè)備名稱：鎢燈絲掃描電鏡

型號：Q45W7

品牌：美國FEI

用途：掃描電鏡主要用于各種材料的組織形貌觀察，材料斷口分析和失效分析；配備能譜儀可進行材料實時微區(qū)的成分分析，元素定量、定性成分分析，快速的多元素面掃描和線掃描分布測量；配備背散射電子衍射儀（EBSD）可進行晶格取向分析；配備非金屬夾雜物分析軟件可進行夾雜物定性定量分析。

特點：對于失效分析、質(zhì)量控制和材料表征而言，Quanta 450鎢燈絲掃描電鏡具有經(jīng)濟、高效的高分辨成像和分析應(yīng)用的解決方案，應(yīng)對不導(dǎo)電樣品，Quanta 450提供了低真空模式下的高性能、消除了對專用的樣品制備步驟；另外Quanta 450加上了換掃模式，擴展了SEM的成像和分析功能。

技術(shù)參數(shù)：

1.分辨率：

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